Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Bünau, Günther von (VerfasserIn), Klöppel, Klaus-Dieter (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Opladen Westdt. Verl. 1981
Schriftenreihe:	Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen 3049
Schlagworte:	Sekundärionen-Massenspektrometrie Oberflächenanalyse
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