Fundamentals of surface and thin film analysis

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Feldman, Leonard C. (VerfasserIn), Mayer, James W. 1930-2013 (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	Undetermined
Veröffentlicht:	New York [u.a.] North Holland 1986
Schlagworte:	Auger-Spektroskopie Dünne Schicht Struktur Massenspektrometrie Elektronen-Energieverlustspektroskopie Spektroskopie Röntgen-Photoelektronenspektroskopie Oberfläche EXAFS
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