Experimental high-resolution electron microscopy

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Spence, John C. H. (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	New York [u. a.] Oxford Univ. Press 1988
Ausgabe:	[2nd. ed.]
Schlagworte:	Elektronenbeugung Durchstrahlungselektronenmikroskopie Struktur Elektronenmikroskopie Festkörper Hochauflösendes Verfahren
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