EXAFS [Extended X-Ray Absorption Fine Structure] spectroscopy techniques and applications; based on the proceedings of a symposium on applications of EXAFS to material science, held at the 1979 meeting of the Materials Research Society, November 26-30, 1979, in Boston, MA

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Teo, B. K. (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: New York [u.a.] Plenum Press 1981
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