Theoretische Simulation von TVS- und TSIC- Charakteristiken des Na + -Ionentransportes in der MOS- Isolatorschicht bei Berücksichtigung des Implantationseinflusses

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Piprek, Joachim (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1986
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