Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Reese, Elisabeth (VerfasserIn)
Format:	Abschlussarbeit Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Jülich Kernforschungsanlage 1988
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Schlagworte:	Elektronenstruktur Fotospannung Silicium Oberfläche Hochschulschrift
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