Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Jülich
Kernforschungsanlage
1988
|
| Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
| Schlagworte: | |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV024462379 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20090910 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 090924s1988 ad|| tm|| 00||| ger d | ||
| 015 | |a 88,B22,0536 |2 dnb | ||
| 035 | |a (OCoLC)916260942 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV024462379 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-83 |a DE-11 | ||
| 088 | |a Jül 2177 | ||
| 100 | 1 | |a Reese, Elisabeth |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode |c von Elisabeth Reese |
| 250 | |a Als Ms. gedr. | ||
| 264 | 1 | |a Jülich |b Kernforschungsanlage |c 1988 | |
| 300 | |a 103 S. |b 53 Ill. u. graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 500 | |a Jul 2177 | ||
| 502 | |a Zugl.: Düsseldorf, Univ., Diss., 1988 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Elektronenstruktur |0 (DE-588)4129531-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Fotospannung |0 (DE-588)4252194-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Silicium |0 (DE-588)4077445-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Oberfläche |0 (DE-588)4042907-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Silicium |0 (DE-588)4077445-4 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Oberfläche |0 (DE-588)4042907-6 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Elektronenstruktur |0 (DE-588)4129531-6 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Fotospannung |0 (DE-588)4252194-4 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Oberfläche |0 (DE-588)4042907-6 |D s |
| 689 | 1 | 2 | |a Silicium |0 (DE-588)4077445-4 |D s |
| 689 | 1 | |8 1\p |5 DE-604 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018438675 | ||
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804140446168907776 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Reese, Elisabeth |
| author_facet | Reese, Elisabeth |
| author_role | aut |
| author_sort | Reese, Elisabeth |
| author_variant | e r er |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV024462379 |
| ctrlnum | (OCoLC)916260942 (DE-599)BVBBV024462379 |
| edition | Als Ms. gedr. |
| format | Thesis Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01660nam a2200469 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV024462379</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20090910 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">090924s1988 ad|| tm|| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="015" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">88,B22,0536</subfield><subfield code="2">dnb</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)916260942</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV024462379</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-83</subfield><subfield code="a">DE-11</subfield></datafield><datafield tag="088" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Jül 2177</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Reese, Elisabeth</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode</subfield><subfield code="c">von Elisabeth Reese</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Als Ms. gedr.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Jülich</subfield><subfield code="b">Kernforschungsanlage</subfield><subfield code="c">1988</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">103 S.</subfield><subfield code="b">53 Ill. u. graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Jul 2177</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: Düsseldorf, Univ., Diss., 1988</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektronenstruktur</subfield><subfield code="0">(DE-588)4129531-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fotospannung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4252194-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Oberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4042907-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Oberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4042907-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Elektronenstruktur</subfield><subfield code="0">(DE-588)4129531-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Fotospannung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4252194-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Oberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4042907-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018438675</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV024462379 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T22:00:06Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018438675 |
| oclc_num | 916260942 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-83 DE-11 |
| owner_facet | DE-83 DE-11 |
| physical | 103 S. 53 Ill. u. graph. Darst. |
| publishDate | 1988 |
| publishDateSearch | 1988 |
| publishDateSort | 1988 |
| publisher | Kernforschungsanlage |
| record_format | marc |
| spelling | Reese, Elisabeth Verfasser aut Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode von Elisabeth Reese Als Ms. gedr. Jülich Kernforschungsanlage 1988 103 S. 53 Ill. u. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Jul 2177 Zugl.: Düsseldorf, Univ., Diss., 1988 Elektronenstruktur (DE-588)4129531-6 gnd rswk-swf Fotospannung (DE-588)4252194-4 gnd rswk-swf Silicium (DE-588)4077445-4 gnd rswk-swf Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Silicium (DE-588)4077445-4 s Oberfläche (DE-588)4042907-6 s Elektronenstruktur (DE-588)4129531-6 s DE-604 Fotospannung (DE-588)4252194-4 s 1\p DE-604 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
| spellingShingle | Reese, Elisabeth Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode Elektronenstruktur (DE-588)4129531-6 gnd Fotospannung (DE-588)4252194-4 gnd Silicium (DE-588)4077445-4 gnd Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4129531-6 (DE-588)4252194-4 (DE-588)4077445-4 (DE-588)4042907-6 (DE-588)4113937-9 |
| title | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode |
| title_auth | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode |
| title_exact_search | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode |
| title_full | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode von Elisabeth Reese |
| title_fullStr | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode von Elisabeth Reese |
| title_full_unstemmed | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode von Elisabeth Reese |
| title_short | Untersuchung der Oberflächenzustände der Si(001)-Fläche mit der Kelvin-Methode |
| title_sort | untersuchung der oberflachenzustande der si 001 flache mit der kelvin methode |
| topic | Elektronenstruktur (DE-588)4129531-6 gnd Fotospannung (DE-588)4252194-4 gnd Silicium (DE-588)4077445-4 gnd Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd |
| topic_facet | Elektronenstruktur Fotospannung Silicium Oberfläche Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT reeseelisabeth untersuchungderoberflachenzustandedersi001flachemitderkelvinmethode |