Records of the 1995 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing August 7 - 8, 1995, San Jose, California

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Workshop on Memory Technology, Design and Testing San José, Calif (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Rajsuman, Rochit (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: LosAlamitos, Calif. <<[u.a.]>> IEEE Computer Soc. Press 1995
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Beschreibung
Beschreibung:IX, 129 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0818671025