Spektroskopie von tiefen Störstellen in II-VI-Halbleitern: Modellunters. an Übergangsmatallzentren in CdS und CdSe
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Undetermined |
| Veröffentlicht: |
1978
|
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!