Zur systematischen Fehlersimulation integrierter analoger Schtungen
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | Undetermined |
| Veröffentlicht: |
Aachen
Shaker
1996
|
| Schriftenreihe: | Berichte aus der Elektrotechnik
|
| Schlagworte: | |
| Tags: |
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|
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000zc 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV023691645 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20010127000000.0 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 990902s1996 d||| m||| 00||| und d | ||
| 020 | |a 3826519027 |c Pb. : DM 89.00 |9 3-8265-1902-7 | ||
| 035 | |a (OCoLC)915829028 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV023691645 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger | ||
| 041 | |a und | ||
| 049 | |a DE-522 | ||
| 100 | 1 | |a Sebeke, Christian |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Zur systematischen Fehlersimulation integrierter analoger Schtungen |c Christian Sebeke |
| 264 | 1 | |a Aachen |b Shaker |c 1996 | |
| 300 | |a X, 118 S. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 0 | |a Berichte aus der Elektrotechnik | |
| 502 | |a Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 1996 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Layout |g Mikroelektronik |0 (DE-588)4264372-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Analoge integrierte Schaltung |0 (DE-588)4112519-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a MOS |0 (DE-588)4130209-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Fehlersimulation |0 (DE-588)4234819-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Analoge integrierte Schaltung |0 (DE-588)4112519-8 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a MOS |0 (DE-588)4130209-6 |D s |
| 689 | 1 | |5 DE-604 | |
| 689 | 2 | 0 | |a Layout |g Mikroelektronik |0 (DE-588)4264372-7 |D s |
| 689 | 2 | |5 DE-604 | |
| 689 | 3 | 0 | |a Fehlersimulation |0 (DE-588)4234819-5 |D s |
| 689 | 3 | |5 DE-604 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-017192209 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804138718214225921 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Sebeke, Christian |
| author_facet | Sebeke, Christian |
| author_role | aut |
| author_sort | Sebeke, Christian |
| author_variant | c s cs |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV023691645 |
| ctrlnum | (OCoLC)915829028 (DE-599)BVBBV023691645 |
| format | Thesis Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01503nam a2200433zc 4500</leader><controlfield tag="001">BV023691645</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20010127000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">990902s1996 d||| m||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3826519027</subfield><subfield code="c">Pb. : DM 89.00</subfield><subfield code="9">3-8265-1902-7</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)915829028</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV023691645</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-522</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Sebeke, Christian</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Zur systematischen Fehlersimulation integrierter analoger Schtungen</subfield><subfield code="c">Christian Sebeke</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Aachen</subfield><subfield code="b">Shaker</subfield><subfield code="c">1996</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">X, 118 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Berichte aus der Elektrotechnik</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 1996</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Layout</subfield><subfield code="g">Mikroelektronik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4264372-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Analoge integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4112519-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">MOS</subfield><subfield code="0">(DE-588)4130209-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehlersimulation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234819-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Analoge integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4112519-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">MOS</subfield><subfield code="0">(DE-588)4130209-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">Layout</subfield><subfield code="g">Mikroelektronik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4264372-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="0"><subfield code="a">Fehlersimulation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234819-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-017192209</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV023691645 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T21:32:38Z |
| institution | BVB |
| isbn | 3826519027 |
| language | Undetermined |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-017192209 |
| oclc_num | 915829028 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-522 |
| owner_facet | DE-522 |
| physical | X, 118 S. graph. Darst. |
| publishDate | 1996 |
| publishDateSearch | 1996 |
| publishDateSort | 1996 |
| publisher | Shaker |
| record_format | marc |
| series2 | Berichte aus der Elektrotechnik |
| spelling | Sebeke, Christian Verfasser aut Zur systematischen Fehlersimulation integrierter analoger Schtungen Christian Sebeke Aachen Shaker 1996 X, 118 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Berichte aus der Elektrotechnik Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 1996 Layout Mikroelektronik (DE-588)4264372-7 gnd rswk-swf Analoge integrierte Schaltung (DE-588)4112519-8 gnd rswk-swf MOS (DE-588)4130209-6 gnd rswk-swf Fehlersimulation (DE-588)4234819-5 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Analoge integrierte Schaltung (DE-588)4112519-8 s DE-604 MOS (DE-588)4130209-6 s Layout Mikroelektronik (DE-588)4264372-7 s Fehlersimulation (DE-588)4234819-5 s |
| spellingShingle | Sebeke, Christian Zur systematischen Fehlersimulation integrierter analoger Schtungen Layout Mikroelektronik (DE-588)4264372-7 gnd Analoge integrierte Schaltung (DE-588)4112519-8 gnd MOS (DE-588)4130209-6 gnd Fehlersimulation (DE-588)4234819-5 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4264372-7 (DE-588)4112519-8 (DE-588)4130209-6 (DE-588)4234819-5 (DE-588)4113937-9 |
| title | Zur systematischen Fehlersimulation integrierter analoger Schtungen |
| title_auth | Zur systematischen Fehlersimulation integrierter analoger Schtungen |
| title_exact_search | Zur systematischen Fehlersimulation integrierter analoger Schtungen |
| title_full | Zur systematischen Fehlersimulation integrierter analoger Schtungen Christian Sebeke |
| title_fullStr | Zur systematischen Fehlersimulation integrierter analoger Schtungen Christian Sebeke |
| title_full_unstemmed | Zur systematischen Fehlersimulation integrierter analoger Schtungen Christian Sebeke |
| title_short | Zur systematischen Fehlersimulation integrierter analoger Schtungen |
| title_sort | zur systematischen fehlersimulation integrierter analoger schtungen |
| topic | Layout Mikroelektronik (DE-588)4264372-7 gnd Analoge integrierte Schaltung (DE-588)4112519-8 gnd MOS (DE-588)4130209-6 gnd Fehlersimulation (DE-588)4234819-5 gnd |
| topic_facet | Layout Mikroelektronik Analoge integrierte Schaltung MOS Fehlersimulation Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT sebekechristian zursystematischenfehlersimulationintegrierteranalogerschtungen |