Ballistische Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM) an Ferromagnet-Halbleitergrenzflächen

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Obernhuber, Sandra (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	2007
Schlagworte:	Halbleitergrenzfläche Schottky-Kontakt Ferromagnetische Heterostruktur Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie Hochschulschrift
Online-Zugang:	kostenfrei
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