Dielectrics in microelectronics

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Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Oxford Pergamon 1998
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturangaben. - In: Microelectronics reliability ; 38 (1998),2 : Special issue
Beschreibung:S. 179 - 293 Ill., graph. Darst.