Accelerated testing statistical models, test plans, and data analyses

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Nelson, Wayne (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York [u.a.] Wiley c 1990
Ausgabe:2. print.
Schriftenreihe:Wiley series in probability and mathematical statistics : applied probability and statistics
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