Abbildung der strukturellen Eigenschaften von SiC mittels IR-Nahfeldmikroskopie
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| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
2005
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| Schlagworte: | |
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| Beschreibung: | München, Techn. Univ., Dipl.-Arb., 2005 |
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| Beschreibung: | 128 S. Ill., graph. Darst. |