Stress analysis and bending tests for GaAs wafer
Gespeichert in:
| Format: | Buch |
|---|---|
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Berlin
WIAS
2003
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| Schriftenreihe: | Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik
897 |
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| Beschreibung: | 27 S. Ill., graph. Darst. |
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