Simultane Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskopie bei 5 K im Ultrahochvakuum

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Hembacher, Stefan Franz (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Berlin dissertation.de 2004
Schlagworte:	Rastertunnelmikroskop Oberflächenstruktur Rasterkraftmikroskop Grafit Hochschulschrift
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