Atomic force microscopy, scanning tunneling microscopy Proceedings of the First US Army Natick Research, Development and Engineering Center Atomic Force Microscopy, Scanning Tunneling Microscopy (AFM,STM) Symposium,held June 8 - 10, 1993, in Natick, Massachusetts

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Atomic Force Microscopy, Scanning Tunneling Microscopy Symposium Natick, Mass (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Cohen, Samuel H. (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York [u.a.] Plenum Press 1994
Schriftenreihe:Atomic force microscopy, scanning tunneling microscopy [1]
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