Polarization: measurement, analysis, and remote sensing II 19 - 21 July 1999, Denver, Colorado

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Bibliographische Detailangaben
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 1999
Schriftenreihe:	Proceedings of SPIE / Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers 3754
Schlagworte:	Optical instruments > Design and construction > Congresses Polarimetry > Congresses Polarization (Light) > Measurement > Congresses Polarisation Konferenzschrift > 1999 > Denver Colo.
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