Charakterisierung des Einflusses von Defekten auf die Eigenschaften von Leistungshalbleitern
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1999
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| Schlagworte: | |
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| Beschreibung: | Frankfurt (Main), Univ., Diss., 1999 |
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| Beschreibung: | 127 S. Ill., graph. Darst. : 30 cm |