Failure analysis of integrated circuits tools and techniques

Bibliographische Detailangaben

Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Boston u.a. Kluwer 1999
Schlagworte:	Integrated circuits > Reliability Integrated circuits > Testing Semiconductors > Failures Prüftechnik Integrierte Schaltung Fehlererkennung
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