ESD protection devices for CMOS technologies: processing impact, modeling and testing issues

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Russ, Christian (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Aachen Shaker 1999
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:	Berichte aus der Halbleitertechnik
Schlagworte:	Elektrostatische Entladung CMOS Schutz > Elektrotechnik Hochschulschrift
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ESD protection devices for CMOS technologies processing impact, modeling, and testing issues von Russ, Christian

Veröffentlicht 1999

Abschlussarbeit Buch