Scattering and surface roughness 30 - 31 July 1997, San Diego, California

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Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 1997
Schriftenreihe:Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers: Proceedings of SPIE 3141
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Beschreibung
Beschreibung:IX, 338 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:081942563X