Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie "SIMS" mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Düsterhöft, Heinz (VerfasserIn), Riedel, Miklos 1939- (VerfasserIn), Düsterhöft, Bettina-Kirsten 1956- (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Stuttgart ; Leipzig Teubner 1999
Schriftenreihe:	Teubner-Studienbücher : Physik
Schlagworte:	Sekundärionen-Massenspektrometrie Lehrbuch
Online-Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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