High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers

High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers

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Hauptverfasser:	Holý, Václav 1953- (VerfasserIn), Pietsch, Ullrich (VerfasserIn), Baumbach, Tilo 1961- (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Berlin [u.a.] Springer 1999
Schriftenreihe:	Springer tracts in modern physics 149
Schlagworte:	Couches minces - Propriétés optiques Langmuir-Blodgett, Couches de - Propriétés optiques Rayons X - Diffraction Rayons X - Diffusion Thin films > Optical properties Thin films, Multilayered > Optical properties X-rays > Diffraction X-rays > Scattering Mehrschichtsystem Dünne Schicht Röntgenstreuung
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High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers

High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers von Holý, Václav 1953-, Pietsch, Ullrich, Baumbach, Tilo 1961-

Veröffentlicht 1999

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