Die Topologie fehlpassender SiGe-Schichten Merkmale selbstorganisierten Wachstums
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Erlangen
Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung
1998
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| Schriftenreihe: | Mikrostrukturelle Materialforschung
7 |
| Schlagworte: | |
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| Beschreibung: | Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 1998 |
|---|---|
| Beschreibung: | III, 94, XV S. Ill., graph. Darst. |
| ISBN: | 3932392094 |