Tiefenselektive Konversionselektronen-Mössbauerspektroskopie an ionenimplantierten Oberflächen

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Kruijer, Stefan (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Aachen Shaker 1998
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:	Berichte aus der Physik
Schlagworte:	Metalloberfläche Silicium Siliciumion CEMS Wafer Aluminiumion Eisen > alpha- Ionenimplantation Eisenion Hochschulschrift
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