How to count patents and value intellectual property uses of patent renewal and application data

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Lanjouw, Jean O. (VerfasserIn), Pakes, Ariel (VerfasserIn), Putnam, Jonathan (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Cambridge, Mass. 1996
Schriftenreihe:	National Bureau of Economic Research <Cambridge, Mass.>: NBER working paper series 5741
Schlagworte:	Ökonometrisches Modell Intellectual property > Valuation Patents > Valuation > Econometric models
Online-Zugang:	kostenfrei
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