Entwicklung einer Methode zur Bestimmung der Generationslebensdauer in amorphem Silizium

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Löffler, Steffen (VerfasserIn)
Format:	Abschlussarbeit Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	1995
Schlagworte:	Amorpher Zustand MOS-Diode Lebensdauer Minoritätsträger Silicium Wasserstoff Hochschulschrift
Online-Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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