Untersuchung der atomaren Struktur der Oberflächen und Grenzflächen von III-V-Verbindungs-Halbleitern

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Behrend, Jörg (VerfasserIn)
Format:	Abschlussarbeit Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	1996
Schlagworte:	Ellipsometrie Molekularstrahlepitaxie RHEED Rastertunnelmikroskopie Drei-Fünf-Halbleiter Halbleiteroberfläche Struktur Hochschulschrift
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Untersuchung der atomaren Struktur der Oberflächen und Grenzflächen von III-V-Verbindungs-Halbleitern von Behrend, Jörg

Veröffentlicht 1995

Abschlussarbeit Buch