Raster-Kraftmikroskopie an Silizium und Ionenkristallen im Ultrahochvakuum

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Howald, Lukas (VerfasserIn)
Format: Mikrofilm Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1994
Ausgabe:[Mikrofiche-Ausg.]
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Beschreibung
Beschreibung:Basel, Univ., Diss., 1994. - Mikrofiche-Ausg.: 1 Mikrofiche : 24x
Beschreibung:V, 93 Bl. Ill., graph. Darst.