Proceedings April 30 - May 3, 1995, Princeton, New Jersey

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: VLSI Test Symposium Princeton, NJ (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. [u.a.] IEEE Computer Soc. Press 1995
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Beschreibung
Beschreibung:XX, 493 S. graph. Darst.
ISBN:0818670002