Surface analysis with STM and AFM experimental and theoretical aspects of image analysis

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Magonov, Sergei N. (VerfasserIn), Whangbo, Myung-Hwan (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Weinheim [u.a.] VCH 1996
Schlagworte:	AFM Oppervlakken Scanning tunneling microscopy Atomic force microscopy Electric insulators and insulation > Testing Metals > Surfaces > Analysis Semiconductors > Testing Surfaces (Technology) > Analysis Oberflächenanalyse Rastertunnelmikroskopie Rasterkraftmikroskopie
Online-Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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