Integrated circuit defect sensitivity theory and computational models

Integrated circuit defect sensitivity theory and computational models

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Pineda de Gyvez, José (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Boston u.a. Kluwer 1993
Schriftenreihe:	The Kluwer international series in engineering and computer science 208
Schlagworte:	Circuits intégrés à très grande échelle Mathematisches Modell Integrated circuits > Very large scale integration > Computer-aided design Integrated circuits > Very large scale integration > Defects > Mathematical models Integrierte Schaltung Fehlererkennung
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