Defects in semiconductors 2 Symposium held Nov. 1982 in Boston, Massachusetts, USA

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Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY [u.a.] North-Holland Publ. Comp. 1983
Schriftenreihe:Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings 14
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Beschreibung
Beschreibung:XV, 582 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0444008128