LSI/VLSI testability design
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Format: | Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
New York u.a.
McGraw-Hill
1987
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| Schlagworte: | |
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| Beschreibung: | Literaturverz. S. 591 - 684 |
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| Beschreibung: | XV, 702 S. |
| ISBN: | 0070653410 |