Erhöhung der Packungsdichte von VLSI-Schaltungen durch automatisches Justieren

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Fehling, Heino (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Eggenstein-Leopoldshafen Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik 1985
Schriftenreihe:Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht T / 85,1 - 85,20
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MARC

LEADER 00000nam a2200000 cb4500
001 BV009075199
003 DE-604
005 00000000000000.0
007 t
008 940227s1985 |||| 00||| ger d
035 |a (OCoLC)74735606 
035 |a (DE-599)BVBBV009075199 
040 |a DE-604  |b ger  |e rakddb 
041 0 |a ger 
049 |a DE-29T  |a DE-210 
100 1 |a Fehling, Heino  |e Verfasser  |4 aut 
245 1 0 |a Erhöhung der Packungsdichte von VLSI-Schaltungen durch automatisches Justieren 
264 1 |a Eggenstein-Leopoldshafen  |b Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik  |c 1985 
300 |a 104 S. 
336 |b txt  |2 rdacontent 
337 |b n  |2 rdamedia 
338 |b nc  |2 rdacarrier 
490 1 |a Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht T / 85,1 -  |v 85,20 
650 0 7 |a VLSI  |0 (DE-588)4117388-0  |2 gnd  |9 rswk-swf 
650 0 7 |a Integrierte Schaltung  |0 (DE-588)4027242-4  |2 gnd  |9 rswk-swf 
650 0 7 |a Packungsdichte  |0 (DE-588)4737233-3  |2 gnd  |9 rswk-swf 
650 0 7 |a Fotolithografie  |g Halbleitertechnologie  |0 (DE-588)4174516-4  |2 gnd  |9 rswk-swf 
689 0 0 |a VLSI  |0 (DE-588)4117388-0  |D s 
689 0 1 |a Packungsdichte  |0 (DE-588)4737233-3  |D s 
689 0 |5 DE-604 
689 1 0 |a Fotolithografie  |g Halbleitertechnologie  |0 (DE-588)4174516-4  |D s 
689 1 1 |a Integrierte Schaltung  |0 (DE-588)4027242-4  |D s 
689 1 |8 1\p  |5 DE-604 
810 2 |a Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht T / 85,1 -  |t Deutschland <Bundesrepublik>  |v 85,20  |w (DE-604)BV000004400  |9 85,20 
999 |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006012547 
883 1 |8 1\p  |a cgwrk  |d 20201028  |q DE-101  |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 

Datensatz im Suchindex

_version_ 1804123488759316480
any_adam_object
author Fehling, Heino
author_facet Fehling, Heino
author_role aut
author_sort Fehling, Heino
author_variant h f hf
building Verbundindex
bvnumber BV009075199
ctrlnum (OCoLC)74735606
(DE-599)BVBBV009075199
format Book
fullrecord <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01671nam a2200397 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV009075199</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">940227s1985 |||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)74735606</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV009075199</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Fehling, Heino</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Erhöhung der Packungsdichte von VLSI-Schaltungen durch automatisches Justieren</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Eggenstein-Leopoldshafen</subfield><subfield code="b">Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik</subfield><subfield code="c">1985</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">104 S.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Deutschland &lt;Bundesrepublik&gt; / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht T / 85,1 -</subfield><subfield code="v">85,20</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">VLSI</subfield><subfield code="0">(DE-588)4117388-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027242-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Packungsdichte</subfield><subfield code="0">(DE-588)4737233-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fotolithografie</subfield><subfield code="g">Halbleitertechnologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4174516-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">VLSI</subfield><subfield code="0">(DE-588)4117388-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Packungsdichte</subfield><subfield code="0">(DE-588)4737233-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Fotolithografie</subfield><subfield code="g">Halbleitertechnologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4174516-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027242-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="810" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht T / 85,1 -</subfield><subfield code="t">Deutschland &lt;Bundesrepublik&gt;</subfield><subfield code="v">85,20</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV000004400</subfield><subfield code="9">85,20</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006012547</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection>
id DE-604.BV009075199
illustrated Not Illustrated
indexdate 2024-07-09T17:30:34Z
institution BVB
language German
oai_aleph_id oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006012547
oclc_num 74735606
open_access_boolean
owner DE-29T
DE-210
owner_facet DE-29T
DE-210
physical 104 S.
publishDate 1985
publishDateSearch 1985
publishDateSort 1985
publisher Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik
record_format marc
series2 Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht T / 85,1 -
spelling Fehling, Heino Verfasser aut
Erhöhung der Packungsdichte von VLSI-Schaltungen durch automatisches Justieren
Eggenstein-Leopoldshafen Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik 1985
104 S.
txt rdacontent
n rdamedia
nc rdacarrier
Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht T / 85,1 - 85,20
VLSI (DE-588)4117388-0 gnd rswk-swf
Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 gnd rswk-swf
Packungsdichte (DE-588)4737233-3 gnd rswk-swf
Fotolithografie Halbleitertechnologie (DE-588)4174516-4 gnd rswk-swf
VLSI (DE-588)4117388-0 s
Packungsdichte (DE-588)4737233-3 s
DE-604
Fotolithografie Halbleitertechnologie (DE-588)4174516-4 s
Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 s
1\p DE-604
Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht T / 85,1 - Deutschland <Bundesrepublik> 85,20 (DE-604)BV000004400 85,20
1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk
spellingShingle Fehling, Heino
Erhöhung der Packungsdichte von VLSI-Schaltungen durch automatisches Justieren
VLSI (DE-588)4117388-0 gnd
Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 gnd
Packungsdichte (DE-588)4737233-3 gnd
Fotolithografie Halbleitertechnologie (DE-588)4174516-4 gnd
subject_GND (DE-588)4117388-0
(DE-588)4027242-4
(DE-588)4737233-3
(DE-588)4174516-4
title Erhöhung der Packungsdichte von VLSI-Schaltungen durch automatisches Justieren
title_auth Erhöhung der Packungsdichte von VLSI-Schaltungen durch automatisches Justieren
title_exact_search Erhöhung der Packungsdichte von VLSI-Schaltungen durch automatisches Justieren
title_full Erhöhung der Packungsdichte von VLSI-Schaltungen durch automatisches Justieren
title_fullStr Erhöhung der Packungsdichte von VLSI-Schaltungen durch automatisches Justieren
title_full_unstemmed Erhöhung der Packungsdichte von VLSI-Schaltungen durch automatisches Justieren
title_short Erhöhung der Packungsdichte von VLSI-Schaltungen durch automatisches Justieren
title_sort erhohung der packungsdichte von vlsi schaltungen durch automatisches justieren
topic VLSI (DE-588)4117388-0 gnd
Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 gnd
Packungsdichte (DE-588)4737233-3 gnd
Fotolithografie Halbleitertechnologie (DE-588)4174516-4 gnd
topic_facet VLSI
Integrierte Schaltung
Packungsdichte
Fotolithografie Halbleitertechnologie
volume_link (DE-604)BV000004400
work_keys_str_mv AT fehlingheino erhohungderpackungsdichtevonvlsischaltungendurchautomatischesjustieren