Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Thaele, Rolf (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI Verl. 1991
Schriftenreihe:Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 08 232
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Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion von Thaele, Rolf

Veröffentlicht 1991
Buch