Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Oxford u.a.
Oxford Univ. Press
1991
|
| Schriftenreihe: | Oxford series on optical sciences
2. |
| Schlagworte: | |
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Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces
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