Hochfeldeigenschaften dünner Gate-Oxide

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Haase, Josef (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI Verl. 1990
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 9] 106
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