Testing and reliable design of CMOS circuits

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Jha, Niraj K. (VerfasserIn), Kundu, Sandip (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Boston u.a. Kluwer Acad. Publ. 1990
Schriftenreihe:	The Kluwer international series in engineering and computer science 88
Schlagworte:	Circuits intégrés à très grande échelle - Essais MOS complémentaires - Essais Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction Metal oxide semiconductors, Complementary > Reliability Metal oxide semiconductors, Complementary > Testing CMOS-Schaltung Zuverlässigkeit Prüftechnik Entwurf
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits

Testing and Reliable Design of CMOS Circuits von Jha, Niraj K., Kundu, Sandip

Veröffentlicht 1990

DE-634
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