Scanning electron microscopy 1978 1. An international review of advances in instrumentation techniques, theory and physical applications of the scanning electron microscope. - 1978. - XIV, 898 S.
Gespeichert in:
| Format: | Buch |
|---|---|
| Sprache: | Undetermined |
| Veröffentlicht: |
O'Hare
SEM
1978
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