Imperfections and impurities in semiconductor silicon

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Ravi, Kramadhati V. (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	New York Wiley 1981
Schriftenreihe:	A Wiley-interscience publication.
Schlagworte:	Semiconductors > Defects Silicon > Defects Siliciumhalbleiter Gitterbaufehler Halbleitertechnologie Silicium
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