Built-in test for VLSI pseudorandom techniques

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Hauptverfasser: Bardell, Paul H. (VerfasserIn), MacAnney, William H. (VerfasserIn), Savir, Jacob (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York u.a. Wiley 1987
Schriftenreihe:A Wiley-Interscience publication.
Schlagworte:
Circuits intégrés à très grande échelle - Essais
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing
VLSI
Prüftechnik
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Built-in test for VLSI pseudorandom techniques

Built-in test for VLSI pseudorandom techniques von Bardell, Paul H.

Veröffentlicht 1987
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Built-in test for VLSI pseudorandom techniques von Bardell, Paul H., MacAnney, William H., Savir, Jacob

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