Built-in test for VLSI pseudorandom techniques

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Bardell, Paul H. (VerfasserIn), MacAnney, William H. (VerfasserIn), Savir, Jacob (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York u.a. Wiley 1987
Schriftenreihe:A Wiley-Interscience publication.
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