Verfahren zur Bestimmung elektrischer Halbleiterparameter mit dem Raster-Elektronenmikroskop

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kamm, Joseph Dieter (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: München 1977
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Beschreibung
Beschreibung:München, Techn. Univ., Diss., 1977
Beschreibung:245 S.