Testing's impact on design and technology proceedings ; September 8 - 11, 1986

Proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis November 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California
Veröffentlicht: (2005)

Proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis 2 - 6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California
Veröffentlicht: (2003)

Journal of electronic testing JETTA ; theory and applications
Veröffentlicht: (1990)

Lexikon Elektronik und Mikroelektronik
Veröffentlicht: (1990)

Angewandte Mikroelektronik
von: Lohninger, Hans 1957-

Testing's changing role proceedings ... ; Oct. 18 - 20, 1983
Veröffentlicht: (1983)

Compendium of papers May 27 - 29 1998, Sitges, Barcelona, Spain
Veröffentlicht: (1998)

Compendium of papers Cagliari (Grand Hotel Chia Laguna), Italy, May 28 - 30, 1997
Veröffentlicht: (1997)

Testing of instruments
von: Makarovic, B.

ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California
Veröffentlicht: (2001)

ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California
Veröffentlicht: (2001)

Elektorlabs magazin design, build, sell
Veröffentlicht: (2018)

SMACD/PRIME 2021 International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design and 16th Conference on PhD Research in Microelectronics and Electronics : 19-22 July 2021, Online Event
Veröffentlicht: (2021)

Mikroelektronik und deren Bauelemente
Veröffentlicht: (1986)

Proceedings [September 10 - 14, 1990, Washington, DC]
Veröffentlicht: (1990)

Testing active and passive electronic components
von: Powell, Richard F.
Veröffentlicht: (1987)

Lexikon Elektronik und Mikroelektronik
Veröffentlicht: (1993)

VLSI Testing
Veröffentlicht: (1988)

VLSI Testing
Veröffentlicht: (1986)

VLSI testing
Veröffentlicht: (1986)

Proceedings ICCD '84, Rye Town Hilton, Port Chester, NY, October 8 - October 11, 1984
Veröffentlicht: (1984)

The test access port and boundary scan architecture
Veröffentlicht: (1990)

Proceedings June 11 - 13, 1997, Maribor, Slovenia
Veröffentlicht: (1997)

PTB testing instructions

Proceedings [Oct. 17 - 21, 1993, Baltimore, MD]
Veröffentlicht: (1993)

Proceedings [Oct. 19 - 21, 1998, Washington, DC]
Veröffentlicht: (1998)

Proceedings December 4 - 6, 1991, San Antonio, Texas
Veröffentlicht: (1991)

Proceedings [May 28 - June 1, 1989, Jerusalem, Israel]
Veröffentlicht: (1989)

Proceedings Nov. 7 - 11, 1983, the Palmer House, Chicago, Ill.
Veröffentlicht: (1983)

The impact of microelectronics
Veröffentlicht: (1963)

Proceedings
Veröffentlicht: (1991)

Proceedings
Veröffentlicht: (1997)

Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed signal VLSI circuits
von: Bushnell, Michael Lee, et al.
Veröffentlicht: (2001)

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed signal VLSI circuits
von: Bushnell, Michael L., et al.
Veröffentlicht: (2000)

Designing, testing, and diagnostics join them ; proceedings ; October 17 - 21, 1993, Convention Center, Baltimore, Maryland, USA
Veröffentlicht: (1993)

Proceedings 26 - 27 July 2001, Bethesda, Maryland
Veröffentlicht: (2001)