Analyse des elektronischen Verhaltens von Korngrenzen in Halbleitern mit Licht- und Elektronenstrahl-Rasterverfahren
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Stuttgart
1983
|
| Schlagworte: | |
| Tags: |
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|
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV002027807 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20060629 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 890928s1983 ad|| m||| 00||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)74613496 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV002027807 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-91 |a DE-83 |a DE-11 | ||
| 084 | |a PHY 701d |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Marek, Jiří |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Analyse des elektronischen Verhaltens von Korngrenzen in Halbleitern mit Licht- und Elektronenstrahl-Rasterverfahren |
| 264 | 1 | |a Stuttgart |c 1983 | |
| 300 | |a 103 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 500 | |a Stuttgart, Univ., Diss. | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Halbleiter |0 (DE-588)4022993-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Elektronische Eigenschaft |0 (DE-588)4235053-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Korngrenze |0 (DE-588)4137128-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Rastermikroskopie |0 (DE-588)4330329-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Halbleiter |0 (DE-588)4022993-2 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Korngrenze |0 (DE-588)4137128-8 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Elektronische Eigenschaft |0 (DE-588)4235053-0 |D s |
| 689 | 0 | 3 | |a Rastermikroskopie |0 (DE-588)4330329-8 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 940 | 1 | |q TUB-nveb | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001325094 | ||
Datensatz im Suchindex
| DE-BY-TUM_call_number | 0001/DA 84 188 |
|---|---|
| DE-BY-TUM_katkey | 209142 |
| DE-BY-TUM_local_keycode | di |
| DE-BY-TUM_media_number | TEMP1662877 |
| _version_ | 1816711361623752704 |
| any_adam_object | |
| author | Marek, Jiří |
| author_facet | Marek, Jiří |
| author_role | aut |
| author_sort | Marek, Jiří |
| author_variant | j m jm |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV002027807 |
| classification_tum | PHY 701d |
| ctrlnum | (OCoLC)74613496 (DE-599)BVBBV002027807 |
| discipline | Physik |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01395nam a2200397 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV002027807</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20060629 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">890928s1983 ad|| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)74613496</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV002027807</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield><subfield code="a">DE-11</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 701d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Marek, Jiří</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Analyse des elektronischen Verhaltens von Korngrenzen in Halbleitern mit Licht- und Elektronenstrahl-Rasterverfahren</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Stuttgart</subfield><subfield code="c">1983</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">103 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Stuttgart, Univ., Diss.</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleiter</subfield><subfield code="0">(DE-588)4022993-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektronische Eigenschaft</subfield><subfield code="0">(DE-588)4235053-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Korngrenze</subfield><subfield code="0">(DE-588)4137128-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Rastermikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4330329-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Halbleiter</subfield><subfield code="0">(DE-588)4022993-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Korngrenze</subfield><subfield code="0">(DE-588)4137128-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Elektronische Eigenschaft</subfield><subfield code="0">(DE-588)4235053-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Rastermikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4330329-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="940" ind1="1" ind2=" "><subfield code="q">TUB-nveb</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001325094</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV002027807 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-11-25T17:07:22Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001325094 |
| oclc_num | 74613496 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-83 DE-11 |
| owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-83 DE-11 |
| physical | 103 S. Ill., graph. Darst. |
| psigel | TUB-nveb |
| publishDate | 1983 |
| publishDateSearch | 1983 |
| publishDateSort | 1983 |
| record_format | marc |
| spellingShingle | Marek, Jiří Analyse des elektronischen Verhaltens von Korngrenzen in Halbleitern mit Licht- und Elektronenstrahl-Rasterverfahren Halbleiter (DE-588)4022993-2 gnd Elektronische Eigenschaft (DE-588)4235053-0 gnd Korngrenze (DE-588)4137128-8 gnd Rastermikroskopie (DE-588)4330329-8 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4022993-2 (DE-588)4235053-0 (DE-588)4137128-8 (DE-588)4330329-8 (DE-588)4113937-9 |
| title | Analyse des elektronischen Verhaltens von Korngrenzen in Halbleitern mit Licht- und Elektronenstrahl-Rasterverfahren |
| title_auth | Analyse des elektronischen Verhaltens von Korngrenzen in Halbleitern mit Licht- und Elektronenstrahl-Rasterverfahren |
| title_exact_search | Analyse des elektronischen Verhaltens von Korngrenzen in Halbleitern mit Licht- und Elektronenstrahl-Rasterverfahren |
| title_full | Analyse des elektronischen Verhaltens von Korngrenzen in Halbleitern mit Licht- und Elektronenstrahl-Rasterverfahren |
| title_fullStr | Analyse des elektronischen Verhaltens von Korngrenzen in Halbleitern mit Licht- und Elektronenstrahl-Rasterverfahren |
| title_full_unstemmed | Analyse des elektronischen Verhaltens von Korngrenzen in Halbleitern mit Licht- und Elektronenstrahl-Rasterverfahren |
| title_short | Analyse des elektronischen Verhaltens von Korngrenzen in Halbleitern mit Licht- und Elektronenstrahl-Rasterverfahren |
| title_sort | analyse des elektronischen verhaltens von korngrenzen in halbleitern mit licht und elektronenstrahl rasterverfahren |
| topic | Halbleiter (DE-588)4022993-2 gnd Elektronische Eigenschaft (DE-588)4235053-0 gnd Korngrenze (DE-588)4137128-8 gnd Rastermikroskopie (DE-588)4330329-8 gnd |
| topic_facet | Halbleiter Elektronische Eigenschaft Korngrenze Rastermikroskopie Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT marekjiri analysedeselektronischenverhaltensvonkorngrenzeninhalbleiternmitlichtundelektronenstrahlrasterverfahren |