Short wavelength microscopy [this series of papers is the result of a workshop ... held by the New York Academy of Sciences on February 23 - 25, 1977]

Bibliographische Detailangaben

Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	New York, NY New York Acad. of Sciences 1978
Schriftenreihe:	Annals of the New York Academy of Sciences 306
Schlagworte:	New York - 1977 Electron microscopy > Congresses Microscopy > Congresses Microscopy, Electron > Congresses Scattering (Physics) > Congresses Scattering, Radiation > Congresses Mikroskopie Konferenzschrift
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