Secondary ion mass spectrometry SIMS III ; proceedings of the Third International Conference, Technical University, Budapest, Hungary, August 30 - September 5, 1981
Gespeichert in:
| Weitere Verfasser: | |
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| Format: | Tagungsbericht Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Berlin [u.a.]
Springer
1982
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| Schriftenreihe: | Springer series in chemical physics
19 |
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| Beschreibung: | XI, 444 S. Ill., graph. Darst. |
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| ISBN: | 354011372X 038711372X |