Science Letters: A robust polysilicon-assisted SCR in ESD protection application
A novel polysilicon-assisted silicon-controlled rectifier (SCR) is presented and analyzed in this paper, which is fabricated in HHNEC's 0.18μm EEPROM process. The polysilicon-assisted SCRs take advantage of polysilicon layer to help bypass electro-static discharge (E S D) current without occupying e...
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Veröffentlicht in: | Journal of Zhejiang University. A. Science 2007, Vol.8 (12), p.1879-1883 |
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1. Verfasser: | |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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